培训安排：2015年8月21-22日 深圳
培训费用：3200元（含培训费、资料费、午餐及茶点）
培训对象：从事硬件开发部门主管、EMC工程师、硬件开发工程师、PCB 工程师、测试工程师、品管工程师，系统工程师，可靠性工程师
课程背景：
随着电子信息技术的发展日新月异，电子产品的复杂程度也急剧提高，如何从产品设计、物料采购、产品制造以及可靠性试验分析等多方面保障电子产品的可靠性也就成为了广大企业必须重点考虑的问题。整机可靠性工作涉及面宽，问题复杂，在越来越短的产品生命周期的条件下如何进行系统可靠性工作存在很大的难题，赛宝实验室在多年可靠性工作的基础上，提出了电子产品可靠性整体解决方案将有助于企业理清思路，从而抓住可靠性工作的核心，保障产品的可靠性，降低由于可靠性问题导致的经济损失。另外，作为电子产品的基础、关键材料的电子元器件的日益复杂，也带来了电子元器件测试或评价方面的诸多难题，导致了大量的关键元器件由于无法测试或测试方法不科学引发的产品可靠性问题。特别突出的是，除技术难题外，受经济利益驱动，目前市场上还存在大量的假冒翻新器件，严重影响了电子产品的可靠性，并引发了很多安全事故，假冒翻新器件已经成为影响电子产品可靠性的一个最为重要的因素。因此，在整机设计过程中，如何进行系统可靠性管理，如何选择合适的电子元器件；在采购过程中如何保证器件质量稳定，避免采购到假冒翻新器件等劣质元器件，如何保证电子元器件在电子制造过程中的可靠性是广大企业迫切要解决的问题。
课程收益：
通过参与培训，培训学员可以在短时间掌握可靠性指标、模型、预计、分配、FMEA和FTA等。
通过参与培训，能够迅速掌握元器件选用、降额、容差与漂移设计、冗余设计、电路简化设计、潜在通路、“三防”、热设计和静电防护等内容。
通过参与培训，能迅速了解可靠性的控制管理，包括供应商的控制、元器件质量控制、统计过程控制、质量闭环控制和可靠性评审等；并能掌握了解可靠性测定试验、鉴定与验收试验、筛选试验、增长试验、HALT／HASS及加速寿命试验。
课程大纲：
第壹篇 导引篇
一、为什么以可靠性为中心（第 1 章）
二、产品可靠性表征与寿命分布（第 2 章）
1. 产品的可靠性定义（2.1）
2. 产品的可靠性指标（2.2）
3. 可靠性指标间的相互关系（2.3）
4. 浴盆曲线与失效率等级（2.5）
第贰篇 定量分析篇
三、 可靠性模型的建立与分析（第 3 章）
1. 可靠性模型的组成（3.1）
2. 系统可靠性模型（3.3）
（1） 串联系统（3.3.1）
（2） 并联系统（3.3.2）
（3） 表决系统(n中取r系统) （3.3.4）
（4） 串联、并联系统可靠性的计算（3.3.6）
（5） 可靠性预计时建模工作的注意事项（3.4.5）
四、 可靠性预计（第4章）
1. 可靠性预计的主要方法（4.1）
2. 计数法可靠性预计（4.4）
3. 应力分析法的可靠性预计（4.5）
五、 可靠性分配（第 5 章）
1. 可靠性分配考虑的因素（5.1）
2. 考虑复杂度和重要度的分配方法（5.2）
3. 综合因子法(工程加权法分配法,CW法) （5.5）
4. 可靠性指标分配应注意的事项（5.6）
六、 故障模式、效应与危害性分析（FMECA）（第 6 章）
1. 故障模式、影响及危害性分析的概念（6.1）
2. 常用标准（6.2）
3. 军标FMEA/FMECA分析的步骤（6.3）
4. QS9000 的FMECA方法（6.4）
5. 分析实例（6.5）
七、 故障树分析（第 7 章）
1. 分析的概念（7.1）
2. FTA方法基础（7.2）
3. 故障树的一般方法（7.3）
第叁篇 设计技术篇
八、 可靠性设计的目的及方法（第 8 章）
可靠性设计的指导思想（8.1）
九、 元器件的选用技术（第 9 章）
元器件主要失效模式及预防
十、 降额设计（第 10 章）
十一、 储备（冗余）设计（第 12 章）
1. 储备的含义和方式（12.1）
2. 各种储备方式对可靠性的提高（12.2）
3. 故障模式对储备的影响（12.3）
4. 灵活应用储备设计的例子（12.4）
十二、 潜在通路分析（第 14 章）
1.潜在通路分析的由来和原理（14.1）
2.潜在通路的表现形式和设计预防（14.2）
十三、 热设计（第 16 章）
1. 概述（16.1）
2. 热设计的原则（16.3）
3. 改善热设计的方法及示例（16.4）
1）改进现有热设计的方法
2）成功改进的例子
十四、 软件质量和可靠设计（第 20 章）
软件可靠设计准则（20.3）
第肆篇 管理控制篇
十五、 元器件的质量与可靠性控制（第 22 章）
1. 元器件可靠性与质量等级（22.4）
2. 元器件的质量鉴别（22.5）
3. 案例（22.6）
第伍篇 试验评价篇
十六、 可靠性试验分类及其技术问题（第 26 、27 章）
十七、 可靠性测定试验（第 28 章）
1. 可靠性测定试验的方法与要点（28.1）
2. 可靠性测定试验的数据处理方法（28.2）
3. 可靠性测定试验的点估计与置信区间估计（28.3）
十八、 可靠性鉴定与验收试验（第 29 章）
十九、 高加速寿命试验和应力筛选试验(HALT/HASS)（第 32 章）
1. 概述（32.1）
2. HALT试验程序（32.3）
3. 开展HALT和HASS的几点看法（32.5）
二十、 寿命和加速试验（第 33 章）
1. 寿命试验（33.1）
2. 加速寿命试验（33.2）
3. 举例（33.3）
培训讲师：张老师
曾在多家国际公司负责过产品可靠性设计及开发工作。中国某研究所可靠性处长，高级顾问,具有丰富的硬件设计经验。1994年 邀请加入中国最权威的可靠性试验室，从事电子产品测试、试验和可靠性技术研究等领域的学术带头工作。在此试验室一直从事电子元器件和设备的可靠性工作。负责了五个国家重点工程元器件的优选工作，开展电子设备可靠性预计、可靠性设计、可靠性分析等工作，主持了GJB/Z299《电子设备可靠性预计手册》关键技术研究，并相继发布了A、B版。编写了《可靠性建模与分配》，《可靠性预计技术》、《可靠性设计技术》、《故障模式、效应及危害性分析（FMECA）》、《故障树分析(FTA)》、《工程用元器件质量管理》等 有创新性的培训课题。通过国家颁发专业质量培训执教资格证书。是《电子产品可靠性与环境试验》编委会委员。
丰富的产品设计经验和产品测试实践以及深厚的可靠性理论基础，为张老师开展产品可靠性研究提供了丰富的工程经验。曾为广州地铁二号线电源系统及科利公司完成可靠性、维修性设计建议书，为康佳、TCL、美的、科龙、电子36所、34所、54所、44所、26所进行过可靠性内训授课和咨询；为我国电子行业技术人员进行了几十次公开可靠性设计、可靠性预计、3F方法、元器件优选等方面的技术培训。 |
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